波谱-能谱复合型X射线荧光光谱仪集波谱、能谱、微X射线分析于身，集成了波谱和能谱的优点，扩展了X射线荧光光谱仪的分析领域，搭建了从厘米总体分析到毫米分布分析的桥梁。
2017年3月5~9日，第68届匹兹堡际实验室仪器展览会在美芝加哥展览中心举行。
地调局实验测试中心、北京钢研纳克检测技术有限公司、地调局南京地调中心等共同自主研发的 CNX-808WE 波谱-能谱复合型X射线荧光光谱仪惊艳亮相，受到众多专家学者的关注。
该仪器集波谱、能谱、微X射线分析于身，集成了波谱和能谱的优点，扩展了X射线荧光光谱仪的分析领域，搭建了从厘米总体分析到毫米分布分析的桥梁。许多参加展会的客商，对CNX-808WE 波谱-能谱复合型X射线荧光光谱仪表示了大的兴趣，并现场进行了详细咨询。
通过这次参展，不仅了解到了仪器行业的新行情，开拓了际视野，为今后的仪器研发工作带来了新的理念，更有助于该项成果的市场化。
相关阅读：上海仪电分析
